Waferinspektion

Messtechnologien sind unabdingbar für die Herstellung von qualitativ hochwertigen Solarprodukten. Ein Wafer-Inspektionssystem überprüft die Qualität der einzelnen Siliziumwafer. Dadurch werden Mikrorisse, Material- oder Oberflächenschäden in den Siliziumwafer erkannt und die Leitfähigkeit gemessen.

Photovoltaik Solarwafer Inspektionssystem

Wafer-Inspektionsprozess

Nach dem Schneideprozess werden die Wafer mittels eines vollautomatischen Wafer-Handling-Systems separiert. Die Wafer werden anschliessend stress- und bruchfrei von der Separation über die Endreinigung bis zur Endprüfung transportiert.

Ein vollautomatisiertes Inspektionssystem bietet empirische Daten über die Geometrie der Wafer, über mögliche Material- oder Oberflächenschäden, Leitfähigkeit und Lebensdauerprognosen.

Unser Wafer-Inspektionssystem

Das Inspektionssystem für Siliziumwafer von Meyer Burger liefert verlässliche Ergebnisse. Das System prüft die Siliziumwafer auf Qualität und Leistungsfähigkeit mit einem hohen Durchsatz.

Vorteile der Wafer-Inspektion

  • Erkennung von kleinsten Mikrorissen und Materialschäden
  • Klassifizierung der Leitfähigkeit jedes Wafers
  • Automatisierte Qualitätskontrolle und Sortierprozess
  • Messung  verschiedener Parameter wie Dicke, Kanten, Sägespuren, Leitfähigkeit und Lebensdauerprognosen
  • Modularer Aufbau für die Integration in eine Solarmodulproduktionslinie

Unsere Produkte