Waferinspektion

Das Wafer-Inspektionssystem überprüft die Qualität der einzelnen Siliziumwafer. Dadurch werden Mikrorisse, Material- und Oberflächenschäden in den Siliziumwafer erkannt und die Leitfähigkeit gemessen.

Unser Wafer-Inspektionssystem WIS

Das In­spek­ti­ons­sys­tem für Si­li­zi­um­wa­fer von Meyer Bur­ger lie­fert ver­läss­li­che Er­geb­nis­se. Das Sys­tem prüft die Si­li­zi­um­wa­fer auf Qua­li­tät und Leis­tungs­fä­hig­keit mit höchster Genauigkeit und gleichzeitig hohem Durch­satz.

Vorteile der Wafer-Inspektion:

  • Erkennung von kleinsten Mikrorissen und Materialschäden
  • Klassifizierung der Leitfähigkeit jedes Wafers
  • Automatisierte Qualitätskontrolle und Sortierprozess
  • Messung  verschiedener Parameter wie Dicke, Kanten, Sägespuren, Leitfähigkeit und Lebensdauerprognosen
  • Modularer Aufbau für die Integration in eine Solarmodulproduktionslinie

Unser Produkt

WIS-08
Wafer-Inspektionssystem
WIS-08

Lösung zur Qualitätskontrolle von Wafern: Die beste Technologie für die verlässlichsten Ergebnisse.